课题4：晶元图

现在芯片工业已经是国际贸易争端中的排头兵，请在帆软报表中增加芯片工业最常用的晶元图图表类型。支持通用的配置项和基本的联动效果。

可视化图表是报表展现力的重要组成部分，fr可以通过工具栏上的图标向单元格中插入图表。

finereport自带常用的图表类型。

插入图表后可以在右侧的单元格元素面板中配置相关属性。

现在该你了，使用图表接口，新增一种图表类型——晶元图， 

简单介绍一下晶圆图：

国际上Fab厂通用的计算公式：

π*(晶圆直径/2)的平方 不就是圆面积的式子吗？再将公式化简的话就会变成： 

  X 就是所谓的晶圆可切割晶片数(dpw：die per wafer)。 

die和wafer的关系

具体需求：

涉及字段：wafer编号、wafer直径、die长、die宽，die编号，die横坐标，die纵坐标，测试数据1，测试结果1，测试数据2，测试结果2，...... 测试数据n，测试结果n。

• 晶圆图自动生成：Wafer直径可编辑输入，die尺寸可编辑输入（长宽），定位原点，自动生成die布局，自动显示die编号与坐标。
• 晶圆图导入生成：原数据表中已有die编号及坐标信息，将wafer编号、wafer直径、die长、die宽，die编号，die横坐标，die纵坐标数据直接导入，生成wafer图。
• 图例：测试结果有两种，线性数据和非线性数据，线性数据支持区间分段显示，非线性数据（类似于合格、不合格）支持不同值区分显示，均需用不同颜色区分不同的区间或值。
• 支持两种图，重叠分析（一张图，只显示合格与不合格）与拆开分析（按不同测试项拆开，每个测试项的测试结果作为图例）两种模式；
• 支持原图放大缩小功能，wafer与die同比例缩放；
• 支持鼠标放在die上显示die编号和测试结果信息；

参考前端效果：http://jsfiddle.net/joelion/9p4ojskv/